MET JEOL 2100

Equipe Microscope

Nicholas Blanchard (ILM)

Présentation du microscope

La configuration de ce microscope est bien adaptée pour la microscopie électronique en transmission conventionnelle. Eudes des défauts, taille et forme des nano-objets (nanoparticules, nanotubes, nanofils) et diffraction électronique.

Particularités du microscope

Le microscope JEOL 2100 est équipé d'une pièce polaire High Tilt de résolution 0.25 nm (1ère coupure de la fonction de transfert de contraste à la défocalisation optimale de Scherzer; Cs = 1.4 mm). La taille de sonde minimale est de l'ordre de 1 nm. Un dispositif 'STEM' permet l'acquisition d'images en Champ Clair et Champ Sombre Annulaire.

Le microscope est aligné à 80 kV, 120 kV et 200 kV et il est équipé d'une caméra CCD Orius SC1000 Bottom Mount (Gatan)

Accessoires analytiques

Système EDX XMAX 80mm² et logiciel Aztec (OXFORD INSTRUMENTS)

Porte-objets spécifiques

Porte-objets simple-tilt JEOL (X-tilt : +/- 42deg), analytique Be double-tilt JEOL (X-tilt : +/-42deg, Y-tilt)

Photothèque

Imagerie MET Champ Clair d'un nanofil de SiC

Imagerie MET Champ Clair des nanoparticules d'or

Imagerie Champ Sombre à deux ondes (g = 002) des multicouches epitaxiées InP/AlAs/InAlAs/InGaAs

Imagerie Champ Clair d'une lame mince préparée par FIB

Imagerie Champ Sombre à deux ondes (g = 1-10) d’un grain maclé du carbure de bore