AFM Bruker Dimension Icon
Equipe Microscope
David Albertini (INL), Solène Brottet (INL et Responsable du Service)
Présentation du microscope
Cartographier des échantillons en microscopie à champ proche avec une très haute résolution est une nécessité de plus en plus pressante pour de nombreux laboratoires de la région, pour beaucoup regroupés au sein du CLyM (Consortium Lyon Saint-Etienne de Microscopie).
Un microscope à force atomique (AFM) permet de sonder une surface dans les trois dimensions et à des très petites échelles tout en donnant accès à des propriétés de surface (électriques, mécaniques, magnétiques …). Une pointe, solidaire d’un levier est approchée au contact ou à proximité de la surface à analyser. Un système optique (Laser et photodiode) permet de connaitre à tout moment la position du système levier/pointe et ainsi de suivre, via la déflection du levier, les interactions entre la pointe et la surface de l’échantillon en différents points de la surface.
En janvier 2021, la plateforme CLyM accueille le Bruker dimension Icon, AFM de dernière génération, remplaçant du Bruker dimension 3100 vieux de 20 ans. Ce microscope propose de nouvelles technologies d’imagerie et de spectrographies. Le saut technologique est conséquent et ouvre la voie à des études originales pour les laboratoires partenaires.
Particularités du microscope
Partcularité technique :
- Caisson et table antivibration
- Tête close loop (repositionnement contrôlé) et stand alone (tête autonome survolant de larges échantillons)
- Cellule chauffante jusqu’à 150°C
- Nouvelle électronique Nanoscope 6
- Module d’accès aux signaux SAM6 : développement de modes externes tels que la PFM en suivie de fréquence ou le nanoPUND développé à l’INL.
Nouveaux modes :
- PeakForce Tapping / QNM : mode vibrationnel avec un contrôle précis de la force d’appui et mesure de propriétés mécanique
- DataCube : ajoute une acquisition spectroscopique en chaque pixel durant un temps défini
- Nano-DMA : mesure des propriétés viscoélastiques en chaque pixel (fréquence et température contrôlées)
- SS-PFM : Caractérisation de matériaux ferroélectriques en tenant compte des interactions électrostatiques