Formation CNRS FIB / SEM (mars 2016)

Une formation CNRS sur la "Microscopie à balayage double faisceaux (FIB / SEM)" se tiendra du 21 au 25 mars 2016 au CLyM. C'est une formation "CNRS formation entreprises" ouverte aux industrielles. Elle est organisée conjointement par le CLyM et le laboratoire MATEIS de l'INSA de Lyon. En PJ vous trouverez la plaquette de la formation.