MET JEOL 2010F

Equipe Microscope

Lucian Roiban (Mateis, INSA de Lyon), Clémentine Fellah (LGL-TPE)

 

Présentation du microscope

Le microscope JEOL 2010F du CLYM est un microscope électronique en transmission, à émission de champ de type Schottky, doté d'une résolution de 0.195 nm et d'une taille de sonde minimale de l'ordre de 0.3 nm (0.5 nm en conditions usuelles). Ces caractéristiques en font un instrument à haute résolution très performant pour la caractérisation d'un large éventail d'échantillons. De plus, un dispositif STEM permet l'acquisition d'images en Champ Sombre Annulaire à Grand Angle « HAADF » (High Angle Annular Dark Field).

 

Particularités du microscope

Le microscope JEOL 2010F présente plusieurs accessoires analytiques :

  • Un système EDX XMAX 80 (OXFORD INSTRUMENTS),
  • Un système DigiPEELS (GATAN) avec une résolution en énergie optimale de 0.65 eV (1-1.2 eV en conditions usuelles).

Afin de mener au mieux les analyses, des porte-objets simple-tilt et double-tilt JEOL sont proposés ainsi qu'un embout dédié à la tomographie simple-tilt +/- 85°.

 

Photothèque

Instrument à haute résolution

Poudre de silicium nanoporeux (NP-Si)

Images TEM (gauche) et HRTEM (droite) avec transformée de Fourier calculée à l'intérieur du carré bleu.

doi : 10.1016/j.matchar.2016.12.013

 

Images TEM (a) et HRTEM (b) avec transformée de Fourier de nano-hybride ZnO-PAA dopé à 0.1% Mn

doi : 10.1038/s41598-019-48497-3

 

Dispositif STEM

Polycristal Si3N4 dopé à l'oxyde d'yttrium :

joint de grain et détail montrant la résolution du sous-réseau de silicium en HAADF.

 

Observation STEM HAADF d'un film Ag :TiO2

doi : 10.1007/s11998-018-0105-0

 

Accessoire analytique : Système EDX XMAX 80

Observation STEM-HAADF de trois populations de précipités (a : (Ti,Nb)C, b : Ti4C2S2, c : TiN) retrouvés dans un acier avec les spectres EDX associés.

doi : 10.1016/j.mtla.2019.100233

 

Accessoire analytique : Système DigiPEELS

Image HRTEM de répliques de nitrure sur film de carbone (gauche) et spectre de spectroscopie de perte d’énergie des électrons (EELS) correspondant et indiquant la présence de fer dans ces nitrures riches en chrome (droite).

doi : 10.3390/ma11081409